日本電子・JEM-1400 Flash

超広視野モンタージュシステムと光学顕微鏡画像リンク機能を装備。SiN Window Chip観察対応のため、1mmx2mmの切片が観察可能。

日本電子・JEM-1400

超広域モンタージュシステムを搭載。

日立製作所・H-7650

CCDカメラを搭載

日本電子・JEM2100

TVIPS CMOSカメラ、GATAN 914クライオトランスファーホルダー（2台）により、一般的な常温での観察に加えて、凍結試料の観察も可能。

日本電子・JEM3000EFC

液体ヘリウム温度（-269℃)で電子線照射による試料ダメージを最小限に抑えて、高分解能で微細構造を観察できるクライオ電子顕微鏡システム。搭載されたエネルギーフィルターは、非晶質凍結された含水性試料の観察において非常に有効に機能する。

日立・HT7700

一般的な透過電子顕微鏡。 一般的な透過電子顕微鏡。

日本電子・JEM-1400

一般的な透過電子顕微鏡。

FEI・ Helios NanoLab 660

クライオ機能を除く生物試料の解析に必要な装備を全て搭載。表面切削と切削面のSEMの観察(BlockFaceImaging)を交互に自動で繰り返すことにより、連続切削像を安定的に得ることが可能。

日立・H-7650

電子線トモグラフィー仕様

広域高解像度デジタル画像を短時間で取得可能なCLEM対応透過型電子顕微鏡。

日立製作所I・EF-2000

電子分光装置、cold-FEG、凍結試料の観察装置およびCCDカメラを搭載。

日本電子I・JEM2100

CMOSカメラを搭載する、連続傾斜撮影可能な凍結試料の観察装置。

FEI G2I・Spirit

CMOSカメラを搭載する、連続傾斜撮影可能な凍結試料の観察装置。

日本電子I・JEM2100F

Gatan Orius CCDカメラおよびGatan・クライオ試料ホルダーを搭載し、STEM機能を用いて厚い試料のトモグラフィー解析を可能にする電子顕微鏡。

日本電子I・JEM2200FS

DE20カメラおよびクライオ試料ホルダー(Gatan914)を搭載し、高分解能構造解析に適した試料のスクリーニングおよびトモグラフィーのための連続傾斜像の撮影に適した汎用型クライオ電子顕微鏡

日本電子I・EM2100F

Gatan・クライオ試料ホルダー、K２Summit電子直接検出カメラを搭載し、電子カウンティング可能なカメラで高分解能クライオ電顕画像を撮影できる電子顕微鏡。