支援に使用している機器一覧

電子顕微鏡支援

光-電子相関顕微鏡

機器・装置名 メーカー・型式等  /  特徴 キーワード 設置機関名
透過電子顕微鏡

日本電子・JEM-1400 Flash

超広視野モンタージュシステムと光学顕微鏡画像リンク機能を装備。SiN Window Chip観察対応のため、1mmx2mmの切片が観察可能。

透過型電子顕微鏡(TEM) 光-電子相関顕微鏡 広域電顕観察 理化学研究所(横浜)
光電子相関顕微鏡システム搭載電界放出型走査電子顕微鏡

日立ハイテク・SU8220 with EDX & MirrorCLEM

CLEMシステム"MirrorCLEM"を搭載。元素分析(EDX)も可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) 光-電子相関顕微鏡 元素分析 連続電顕画像取得 広域電顕観察 理化学研究所(横浜)
走査型電子顕微鏡

日立ハイテク・Regulus8240

連続切片自動撮像機能を搭載し、低加速電圧での観察による電顕像と光学顕微鏡像との相関解析が容易。

走査型電子顕微鏡(SEM) 光-電子相関顕微鏡 連続電顕画像取得 北海道大学
高分解能クライオ走査電子顕微鏡

日本電子・JSM-IT800

電界放射形電子銃、液体窒素冷却試料ステージ、凍結試料をクライオウルトラミクロトームと凍結割断装置との間で搬送するための真空クライオトランスファー装置のドックを搭載したクライオSEMシステム。凍結試料の凍結割断面・クライオウルトラミクロトーム切削面のクライオSEM観察が可能。Array tomography解析も可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) クライオ電子顕微鏡 立体再構築 光-電子相関顕微鏡 連続電顕画像取得 広域電顕観察 兵庫県立大学
日本電子・JEM-1400Flash

広域高解像度デジタル画像を短時間で取得可能なCLEM対応透過型電子顕微鏡。

透過型電子顕微鏡(TEM) 光-電子相関顕微鏡 広域電顕観察 久留米大学
広域CLEM観察用高分解能走査電子顕微鏡

日本電子・JSM-iT800

Array tomography仕様となっており、Arraytomography、広域CLEM観察用の重畳型電界放出高分解能SEM、YAG検出器により高速画像取得が可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 光-電子相関顕微鏡 広域電顕観察 久留米大学

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