バルテック・BAF060

割断時の温度精度を上げるため微小温度計を追加するとともに、水蒸気の再凝縮防止のため、シュラウド形状を改良することで、割断時の温度制御、蒸着源の積層圧の制御の点で優れている。

日本電子・JEM2100

TVIPS CMOSカメラ、GATAN 914クライオトランスファーホルダー（2台）により、一般的な常温での観察に加えて、凍結試料の観察も可能。

"ライカ・EM ACE600FF "

凍結固定した試料をクライオSEMで観察するために、凍結割断により割断面を作製できる装置。真空、低温下で試料の割断面に多種多様な元素コーティングが可能（積層厚を制御できる）。

日本電子・JFD-Ⅱ

凍結固定した試料を、高真空、低温下で、試料の割断面を作製できる装置。