支援に使用している機器一覧
久留米大学
電子顕微鏡
機器・装置名 | メーカー・型式等 / 特徴 | キーワード | 設置機関名 |
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透過型電子顕微鏡 |
日立・H-7650 電子線トモグラフィー仕様 |
透過型電子顕微鏡(TEM) 立体再構築 トモグラフィー | 久留米大学 |
日本電子・JEM-1400Flash |
広域高解像度デジタル画像を短時間で取得可能なCLEM対応透過型電子顕微鏡。 |
透過型電子顕微鏡(TEM) 光-電子相関顕微鏡 広域電顕観察 | 久留米大学 |
多光子顕微鏡 |
オリンパス・FVMPE-RS スペクトラフィジクス、Insight DeepSeeを搭載し、Deepimagingに加えNIRBによる試料内空間マーキングを行いCLEMを可能。 |
光顕観察 | 久留米大学 |
精密試料トリミング装置 |
ライカ・EM TRIM2 |
試料・切片作製 | 久留米大学 |
広域CLEM観察用高分解能走査電子顕微鏡 |
日本電子・JSM-iT800 Array tomography仕様となっており、Arraytomography、広域CLEM観察用の重畳型電界放出高分解能SEM、YAG検出器により高速画像取得が可能。 |
走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 光-電子相関顕微鏡 広域電顕観察 | 久留米大学 |
共焦点レーザー顕微鏡 |
オリンパス・FV-1000 超解像ユニットを搭載。 |
光顕観察 | 久留米大学 |
ウルトラミクロトーム |
ライカ・Reichert-Nissei ULTRACUT Nミ |
試料・切片作製 | 久留米大学 |
ウルトラミクロトーム |
ライカ・ARTOS 3D Arraytomography用連続切片作成専用ウルトラミクロトーム。 |
試料・切片作製 | 久留米大学 |
FIB搭載電界放射走査型電子顕微鏡(FIB/SEM) |
FEI・Quanta 3D FEG 収束ガリウムイオンビームを用いた微小試料切削を用いた電子顕微鏡レベルの微小空間3次元解析を行うとともに細胞レベルの3D-CLEMを実現。 |
走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 | 久留米大学 |
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