支援に使用している機器一覧

久留米大学

電子顕微鏡

機器・装置名 メーカー・型式等  /  特徴 キーワード 設置機関名
透過型電子顕微鏡

日立・H-7650

電子線トモグラフィー仕様

透過型電子顕微鏡(TEM) 立体再構築 トモグラフィー 久留米大学
日本電子・JEM-1400Flash

広域高解像度デジタル画像を短時間で取得可能なCLEM対応透過型電子顕微鏡。

透過型電子顕微鏡(TEM) 光-電子相関顕微鏡 広域電顕観察 久留米大学
多光子顕微鏡

オリンパス・FVMPE-RS

スペクトラフィジクス、Insight DeepSeeを搭載し、Deepimagingに加えNIRBによる試料内空間マーキングを行いCLEMを可能。

光顕観察 久留米大学
精密試料トリミング装置

ライカ・EM TRIM2

試料・切片作製 久留米大学
広域CLEM観察用高分解能走査電子顕微鏡

日本電子・JSM-iT800

Array tomography仕様となっており、Arraytomography、広域CLEM観察用の重畳型電界放出高分解能SEM、YAG検出器により高速画像取得が可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 光-電子相関顕微鏡 広域電顕観察 久留米大学
共焦点レーザー顕微鏡

オリンパス・FV-1000

超解像ユニットを搭載。

光顕観察 久留米大学
ウルトラミクロトーム

ライカ・Reichert-Nissei ULTRACUT Nミ

試料・切片作製 久留米大学
ウルトラミクロトーム

ライカ・ARTOS 3D

Arraytomography用連続切片作成専用ウルトラミクロトーム。

試料・切片作製 久留米大学
FIB搭載電界放射走査型電子顕微鏡(FIB/SEM)

FEI・Quanta 3D FEG

収束ガリウムイオンビームを用いた微小試料切削を用いた電子顕微鏡レベルの微小空間3次元解析を行うとともに細胞レベルの3D-CLEMを実現。

走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 久留米大学

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