支援に使用している機器一覧
電子顕微鏡支援
立体再構築
機器・装置名 | メーカー・型式等 / 特徴 | キーワード | 設置機関名 |
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画像解析ソフトウエア |
Thermo Fisher Scientific・Amira 3D 取得した電子顕微鏡等の連続画像から立体(3D)画像の再構築や解析等が可能。 |
立体再構築 画像解析 | 神戸大学 |
走査電子顕微鏡 |
日本電子・JSM-IT800 (SHL) 正確なステージ移動の実現とオートフォーカス機能を改良することで、広範囲(数mm四方)の生体組織試料を高解像度で自動撮像可能。 |
走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 広域電顕観察 | 神戸大学 |
FIB搭載電界放射走査型電子顕微鏡(FIB/SEM) |
FEI・ Scios 細密材料加工が可能な集積イオンビーム(FIB)照射が高分解能型走査型電子顕微鏡に装着された装置。世界最高の薄切厚(最薄8nm)で樹脂包埋された生物試料を連続切削しながら、露出した断面構造の微細形態画像を取得可能。 |
走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 | 名古屋大学 |
ウルトラミクロトーム |
ライカ・ARTOS 3D Arraytomography用連続切片の作製用に開発されたウルトラミクロトーム。通常のウルトラミクロトームとしても使用可能。 |
立体再構築 試料・切片作製 連続電顕画像取得 | 兵庫県立大学 |
高分解能クライオ走査電子顕微鏡 |
日本電子・JSM-IT800 電界放射形電子銃、液体窒素冷却試料ステージ、凍結試料をクライオウルトラミクロトームと凍結割断装置との間で搬送するための真空クライオトランスファー装置のドックを搭載したクライオSEMシステム。凍結試料の凍結割断面・クライオウルトラミクロトーム切削面のクライオSEM観察が可能。Array tomography解析も可能。 |
走査型電子顕微鏡(SEM) クライオ電子顕微鏡 立体再構築 光-電子相関顕微鏡 連続電顕画像取得 広域電顕観察 | 兵庫県立大学 |
集束イオンビーム搭載走査電子顕微鏡(FIB/SEM) |
FEI・ Helios NanoLab 660 クライオ機能を除く生物試料の解析に必要な装備を全て搭載。表面切削と切削面のSEMの観察(BlockFaceImaging)を交互に自動で繰り返すことにより、連続切削像を安定的に得ることが可能。 |
透過型電子顕微鏡(TEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 | 順天堂大学 |
透過型電子顕微鏡 |
日立・H-7650 電子線トモグラフィー仕様 |
透過型電子顕微鏡(TEM) 立体再構築 トモグラフィー | 久留米大学 |
広域CLEM観察用高分解能走査電子顕微鏡 |
日本電子・JSM-iT800 Array tomography仕様となっており、Arraytomography、広域CLEM観察用の重畳型電界放出高分解能SEM、YAG検出器により高速画像取得が可能。 |
走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 光-電子相関顕微鏡 広域電顕観察 | 久留米大学 |
FIB搭載電界放射走査型電子顕微鏡(FIB/SEM) |
FEI・Quanta 3D FEG 収束ガリウムイオンビームを用いた微小試料切削を用いた電子顕微鏡レベルの微小空間3次元解析を行うとともに細胞レベルの3D-CLEMを実現。 |
走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 | 久留米大学 |
ハイパフォーマンス計算サーバ群 |
GPGPU型計算機サーバー5機 Deep Learning Box等に使用可能。 |
立体再構築 単粒子解析 画像解析 | 九州工業大学 |
Eos(電子顕微鏡画像処理支援ソフトウェア) |
電子顕微鏡画像処理ソフトウェア一式(自作) 電子顕微鏡に関する全般的な画像処理が可能。オープンソースとして国内外で利用可能。迅速なプログラム開発のための環境を含んでおり、当該研究機関で開発を継続中。支援内容に応じて、新たな機能を追加可能。 |
立体再構築 単粒子解析 画像解析 | 九州工業大学 |
低真空SBF-SEM |
ツァイス I・SigmaVP Gatan 3View(SEM用ミクロトーム搭載)を搭載し、低真空により試料帯電を抑え、長時間安定に連続切削表面画像を自動撮像可能。 |
走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 トモグラフィー 連続電顕画像取得 | 生理学研究所 |
高分解能SBF-SEM |
ツァイスI・Merlin Gatan 3View (SEM用ミクロトーム)を搭載し、高真空により高い分解能で連続切削表面画像を自動撮像可能。 |
走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 | 生理学研究所 |
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