支援に使用している機器一覧

電子顕微鏡支援

走査型電子顕微鏡(SEM)

機器・装置名 メーカー・型式等  /  特徴 キーワード 設置機関名
走査電子顕微鏡

日本電子・JSM-IT800

正確なステージ移動の実現とオートフォーカス機能を改良することで、広範囲(数mm四方)の生体組織試料を高解像度で自動撮像可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 広域電顕観察 理化学研究所(神戸)
卓上走査電子顕微鏡

日立ハイテク・SU1510

汎用型顕微鏡。大型サンプル対応。

走査型電子顕微鏡(SEM) 広域電顕観察 理化学研究所(横浜)
卓上走査電子顕微鏡

日立ハイテク・TM4000 plus II

簡単に使える卓上型顕微鏡。2.5D計測、広域撮像、簡易CLEM観察が可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) 広域電顕観察 理化学研究所(横浜)
光電子相関顕微鏡システム搭載電界放出型走査電子顕微鏡

日立ハイテク・SU8220 with EDX & MirrorCLEM

CLEMシステム"MirrorCLEM"を搭載。元素分析(EDX)も可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) 光-電子相関顕微鏡 元素分析 連続電顕画像取得 広域電顕観察 理化学研究所(横浜)
走査型電子顕微鏡

日立ハイテク・Regulus8240

連続切片自動撮像機能を搭載し、低加速電圧での観察による電顕像と光学顕微鏡像との相関解析が容易。

走査型電子顕微鏡(SEM) 光-電子相関顕微鏡 連続電顕画像取得 北海道大学
FIB搭載電界放射走査型電子顕微鏡(FIB/SEM)

FEI・ Scios

細密材料加工が可能な集積イオンビーム(FIB)照射が高分解能型走査型電子顕微鏡に装着された装置。世界最高の薄切厚(最薄8nm)で樹脂包埋された生物試料を連続切削しながら、露出した断面構造の微細形態画像を取得可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 名古屋大学
高分解能クライオ走査電子顕微鏡

日本電子・JSM-IT800

電界放射形電子銃、液体窒素冷却試料ステージ、凍結試料をクライオウルトラミクロトームと凍結割断装置との間で搬送するための真空クライオトランスファー装置のドックを搭載したクライオSEMシステム。凍結試料の凍結割断面・クライオウルトラミクロトーム切削面のクライオSEM観察が可能。Array tomography解析も可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) クライオ電子顕微鏡 立体再構築 光-電子相関顕微鏡 連続電顕画像取得 広域電顕観察 兵庫県立大学
クライオ走査型電子顕微鏡

日本電子・JSM6701F

電界放射型電子銃、ライカ VCT100液体窒素冷却試料ステージ、凍結試料をクライオウルトラミクロトームと凍結割断装置との間で搬送するためのVCT100接続用のドックを搭載。常温試料および凍結試料の両方を観察できる走査型電子顕微鏡システム。クライオウルトラミクロトーム、凍結割断装置で調製した凍結試料を観察できる唯一の装置。

走査型電子顕微鏡(SEM) クライオ電子顕微鏡 兵庫県立大学
走査電子顕微鏡

日立・S4800

走査型電子顕微鏡(SEM) 順天堂大学
広域CLEM観察用高分解能走査電子顕微鏡

日本電子・JSM-iT800

Array tomography仕様となっており、Arraytomography、広域CLEM観察用の重畳型電界放出高分解能SEM、YAG検出器により高速画像取得が可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 光-電子相関顕微鏡 広域電顕観察 久留米大学
FIB搭載電界放射走査型電子顕微鏡(FIB/SEM)

FEI・Quanta 3D FEG

収束ガリウムイオンビームを用いた微小試料切削を用いた電子顕微鏡レベルの微小空間3次元解析を行うとともに細胞レベルの3D-CLEMを実現。

走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 久留米大学
低真空SBF-SEM

ツァイス I・SigmaVP

Gatan 3View(SEM用ミクロトーム搭載)を搭載し、低真空により試料帯電を抑え、長時間安定に連続切削表面画像を自動撮像可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 生理学研究所
高分解能SBF-SEM

ツァイスI・Merlin

Gatan 3View (SEM用ミクロトーム)を搭載し、高真空により高い分解能で連続切削表面画像を自動撮像可能。

走査型電子顕微鏡(SEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 生理学研究所

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