日本電子I・JEM2100F

Gatan Orius CCDカメラおよびGatan・クライオ試料ホルダーを搭載し、STEM機能を用いて厚い試料のトモグラフィー解析を可能にする電子顕微鏡。

ツァイス I・SigmaVP

Gatan 3View（SEM用ミクロトーム搭載）を搭載し、低真空により試料帯電を抑え、長時間安定に連続切削表面画像を自動撮像可能。

ツァイスI・Merlin

Gatan 3View （SEM用ミクロトーム）を搭載し、高真空により高い分解能で連続切削表面画像を自動撮像可能。

日本電子I・JEM2200FS

DE20カメラおよびクライオ試料ホルダー(Gatan914)を搭載し、高分解能構造解析に適した試料のスクリーニングおよびトモグラフィーのための連続傾斜像の撮影に適した汎用型クライオ電子顕微鏡

日本電子I・EM2100F

Gatan・クライオ試料ホルダー、K２Summit電子直接検出カメラを搭載し、電子カウンティング可能なカメラで高分解能クライオ電顕画像を撮影できる電子顕微鏡。