支援に使用している機器一覧
順天堂大学
電子顕微鏡
機器・装置名 | メーカー・型式等 / 特徴 | キーワード | 設置機関名 |
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透過電子顕微鏡 |
日立・HT7700 一般的な透過電子顕微鏡。 一般的な透過電子顕微鏡。 |
透過型電子顕微鏡(TEM) | 順天堂大学 |
透過電子顕微鏡 |
日本電子・JEM-1400 一般的な透過電子顕微鏡。 |
透過型電子顕微鏡(TEM) | 順天堂大学 |
凍結置換装置 |
ライカ・EM AFS2 加圧凍結装置などで凍結固定した試料を低温下のメタノール、アセトン液中で凍結置換する装置。さらにUV照射装置により親水性樹脂包埋を行うことが可能である。凍結置換プロセッサーが付属しているため、液の置換からUV照射までの自動化が可能。EM FSP 凍結置換プロセッサーが付属さている。 |
試料・切片作製 | 順天堂大学 |
走査電子顕微鏡 |
日立・S4800 |
走査型電子顕微鏡(SEM) | 順天堂大学 |
集束イオンビーム搭載走査電子顕微鏡(FIB/SEM) |
FEI・ Helios NanoLab 660 クライオ機能を除く生物試料の解析に必要な装備を全て搭載。表面切削と切削面のSEMの観察(BlockFaceImaging)を交互に自動で繰り返すことにより、連続切削像を安定的に得ることが可能。 |
透過型電子顕微鏡(TEM) 立体再構築 連続電顕画像取得 | 順天堂大学 |
加圧凍結装置 |
ライカ・EM HPM100 2100barの圧力下で急速に凍結することによって、最大約200μmの深部まで氷晶の生成を抑えた凍結固定が可能。各種キットによるCLEMやフリーズレプなど様々な用途に対応。三次元レベルのCLEMのために樹脂包埋標本にGFPなどの蛍光を保持させるためには加圧凍結と下記の凍結置換処理が必須となる。以下のものが付属されている。 平板試料ホルダー(3mm、6mm) システム、フリーズフラクチャー(3x0.8mm、4.6mm) システム、メンブレン・キャリアー システム、サファイア・ディスク システム(3mm、6mm) 、CLEM システム(3mm、6mm)、チューブシステム、マイクロバイオプシーシステム |
試料凍結 | 順天堂大学 |
クライオウルトラミクロトーム |
ライカ・UC7/FC7 |
試料・切片作製 | 順天堂大学 |
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