支援に使用している機器一覧
名古屋大学
電子顕微鏡
| 機器・装置名 | メーカー・型式等 / 特徴 | キーワード | 設置機関名 |
|---|---|---|---|
| FIB搭載電界放射走査型電子顕微鏡（FIB/SEM） |
FEI・ Scios 細密材料加工が可能な集積イオンビーム（FIB）照射が高分解能型走査型電子顕微鏡に装着された装置。世界最高の薄切厚(最薄8nm)で樹脂包埋された生物試料を連続切削しながら、露出した断面構造の微細形態画像を取得可能。 |
走査型電子顕微鏡（SEM） 立体再構築 連続電顕画像取得 | 名古屋大学 |
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