トレーニング概要

第30回「高圧凍結法・Waffle Method」

　組織・細胞など生体試料の非晶質凍結法として「高圧凍結法／Waffle Method」が用いられるようになりました(Webページをご確認ください：https://www.leica-microsystems.com/science-lab/life-science/the-waffle-method-high-pressure-freeze-complex-samples/）。試料を200メッシュの金厚膜カーボングリッドに配置して、このグリッドを非常に良く研磨された2枚の試料キャリアで挟んだ状態で高圧凍結します（下図参照）。高圧凍結では、通常、平板試料キャリアの形状により厚さ200µm程度のディスク状に試料が凍結されます。Waffle Methodでは、EMグリッドがスペーサーとなることから、試料の厚さを約20～30µmに薄くすることができます。その結果、凍結試料ラメラを作製する際、Cryo-FIB Millingする体積を大幅に小さくできる利点があります。試料キャリアは、高圧凍結用の平板試料キャリア・タイプB（Cu/Au 6 mm、Type B 0.3 mmキャビティ）、またはメンブレンキャリアを用いることができます。

第31回「電子顕微鏡三次元再構成法・SEM Array Stacking / TEM Tomography」

　SEM Array Stackingのための連続リボン状超薄切片作製から、SEMを用いた連続切片の画像取得、および三次元構造の再構成法までのトレーニングを行います。今回は、参加者の持込試料（樹脂包埋した試料、連続超薄切片、連続断層画像データなど）について、事前相談の上、トレーニング用の試料としてプレリミナリーな観察または解析が、可能な場合があります。試料の持ち込みを希望する場合は、申し込みの際に備考欄に記載して下さい。また、SEM Array Stackingの他に、超薄切片の電子顕微鏡像からの三次元再構成法にはTEM Tomographyがあります。それぞれSEMとTEMを使用した三次元再構成法の違いや特徴などについても、実際に確認し、議論したいと考えています。

受講対象

高圧凍結法／Waffle Method、クライオSEM観察に興味のある方

ウルトラミクロトームを用いた超薄切片作製法をマスターしている方

ARTOS 3D/UC Enuityを用いた連続リボン状超薄切片の作製を学びたい方

SEM Array Stacking、TEM Tomographyによる三次元再構成法に興味のある方

研究・開発・評価などの仕事で電子顕微鏡法に従事される方

主な使用装置

第30回 高圧凍結法・Waffle Method

・高圧凍結装置EM HPM100　（ライカマイクロシステムズ）　： 現行モデルEM ICE

第31回SEM Array Stacking / TEM Tomography

・ARTOS 3D （ライカマイクロシステムズ）

・UC Enuity （ライカマイクロシステムズ）

・EM RAPID （ライカマイクロシステムズ）

・走査電子顕微鏡JSM-IT800 （日本電子）

SEM観察・三次元再構成に使用するソフトウエア

・SEM Supporter （システムインフロンティア）：SEM観察・連続断層画像取得

・Stack ’n’ Viz （システムインフロンティア）：連続断層画像の三次元再構成・可視化

・Colorist （システムインフロンティア）：セグメンテーションおよびカラーリングによる解析

トレーニングスケジュール